KLA ADE9650 UltraGage Wafer measuring system

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类型：Metrology 型号：ADE9650 销售状态：已出售

上架时间：2022/12/01

Rudolph MP200 Film Thickness Measurement

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类型：Metrology 型号：Meta Pulse 200 销售状态：已出售

上架时间：2022/12/01

Hitachi S-9200SA CD SEM(part Machine)

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类型：Metrology 型号：9200SA 销售状态：已出售

上架时间：2022/12/01

KLA KLA5200XP Overlay

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类型：Metrology 型号：5200X 销售状态：已出售

上架时间：2022/12/01

KLA OP-2600DUV W/F inspection

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类型：Metrology 型号：2600DUV 销售状态：已出售

上架时间：2022/12/01

KLA KLA5200 Overlay

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类型：Metrology 型号：5200 销售状态：已出售

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Nanometrics QS300 FTIR Metrology

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类型：Metrology 型号：FT-IR QS300 销售状态：已出售

上架时间：2022/12/01

Hitachi S-9200S CD SEM

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类型：Metrology 型号：9200S 销售状态：已出售

上架时间：2022/12/01

KLA TP-400 Thermal wave

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类型：Metrology 型号：THERMAPROBE 400 销售状态：已出售

上架时间：2022/12/01

KLA FT-530 Surface insepction

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类型：Metrology 型号：FT-500 销售状态：已出售

上架时间：2022/12/01

Hitachi S-9220S CD SEM

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类型：Metrology 型号：9220S 销售状态：已出售

上架时间：2022/12/01

KLA Alpha-Step 500 Surface profiler

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类型：Metrology 型号：500 Alpha Step Profilometer 销售状态：已出售

验机报告：有

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Hitachi S-9260A CD SEM

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类型：Metrology 型号：9260A 销售状态：已出售

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KLA KLA2370-IS Bright Field Inspection

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类型：Metrology 型号：KLA2370-IS 销售状态：已出售

验机报告：有

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KLA RS55 Resistivity measurement

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类型：Metrology 型号：OMINIMAP RS55+C 销售状态：已出售

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KLA Archer 10 AIM+ Overlay

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类型：Metrology 型号：Archer 10 AIM+ 销售状态：已出售

验机报告：有

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Hitachi S-9260 CD SEM

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类型：Metrology 型号：9260 销售状态：已出售

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FEI Expida 1265 Ion Etching

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类型：Metrology 型号：1265 销售状态：已出售

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Nanometrics NanoSpec 8000XSE Thickness Measure

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类型：Metrology 型号：8000XES 销售状态：已出售

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Hitachi S-9300T CD SEM

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类型：Metrology 型号：9300T 销售状态：已出售

验机报告：有

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Hitachi CG4000 CD-SEM

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类型：Metrology 型号：CG4000 销售状态：已出售

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Hitachi S-8820S CD SEM

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类型：Metrology 型号：8820S 销售状态：已出售

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KLA SP2 Particle counter

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类型：Metrology 型号：KLA-TENCOR SP2 销售状态：已出售

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FEI Titan 80-300 FEG-TEM

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类型：Metrology 型号：Titan 80300 销售状态：已出售

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