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FEI Expida 1265 Ion Etching

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类型:Metrology 型号:1265 销售状态:已出售

上架时间:2022/12/01

FEI Titan 80-300 FEG-TEM

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类型:Metrology 型号:Titan 80300 销售状态:已出售

上架时间:2022/12/01

FEI ExSolve CLM next Gen Cut samples from wafers

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类型:Metrology 销售状态:待出售

上架时间:2022/12/01

FEI ExSolve CLM next Gen Cut samples from wafers

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类型:Metrology 销售状态:已销售

上架时间:2022/12/01

FEI ExSolve 2 WTP EFEM High Accuracy FIB

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验机报告:有

上架时间:2023/08/17

FEI CLM 3D FIB

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类型:Metrology 销售状态:待出售

验机报告:有

上架时间:2023/08/17

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